А.3 БІПОЛЯРНІ ТРАНЗИСТОРИ ІНТЕГРАЛЬНИХ СХЕМ
А.3.1 Вправи для самоперевірки
А.3.1.1 Для даного транзистора типу р-п-р задано: А.3.1.2 Кремнієвий транзистор типу п-р-п при кімнатній температурі має концентрацію домішок в базі 1,3·1023м-3 і в колекторі 1,3·1024 м-3. Товщина активної області бази при А.3.1.3 Два біполярних транзистори типу р-п-р відрізняються тим, що товщина бази одного з них складає 0,9 товщини бази другого. Покажіть, що струми на обох транзисторах однакові в тому випадку, коли напруга база-емітер другого транзистора на 0,0027В більша, ніж відповідна напруга першого транзистора. Вказівки: а) вважайте, що ефективна товщина бази значно менша дифузійної довжини; б) вважайте, що рекомбінації носіїв у базі не відбувається; в) припустіть, що струм ІЕ складається із струму І1; (інжектованого з емітера в базу) і струму І2 (інжектованого з бази в емітер); г) вважайте, що концентрація домішок у базі суттєво менша, ніж в емітері, і що перехід емітер-база можна замінити простим діодом. А.3.1.4 Кремнієвий транзистор типу р-п-р має параметри: А.3.1.5 Транзистор типу п-р-п має товщину активної області бази 0,2 мкм. Концентрація домішок скрізь однорідна, за винятком перехідних областей поблизу емітера і колектора. Крім напруги основного джерела, прикладеного до колектора, існує джерело напруги 5В, яке приєднане до активної області бази (без врахування контактної різниці потенціалів і спаду напруги на колекторній області): а) визначити, при якому мінімальному рівні легування бази можна уникнути пробою між колектором і емітером; б) знайти постійну часу бази; в) визначити постійну часу Гуммеля А.3.2 Розв'язування 3.2.1 а) в) г) д) е) Якщо струм ІпЕ зростає, то величина
β зменшується, тому, що зменшується значення коефіцієнта інжекції
γ. Дійсно, якщо зменшити
γ, то знижується
α (тому що А.3.2.2 В цій задачі на конкретному матеріалі обговорюється ефект Ерлі, суть якого в тому, що товщина базової області зменшується від дії зворотної напруги, яка прикладена до колектора
Якщо
Якщо товщина бази зростає на 10% відносно товщини при нульовій напрузі, то це відповідає росту її на
А.3.2.3 Наведені вихідні дані цілком реальні для звичайних тран-зисторів. Таким чином,
Відповідно до умови
3.2.4 а) перехід емітер-база:
б) в) г) область бази:
ІрБ = ІрЕ - ІрК = 2,0429∙10-6А; д) ІБ = ІпЕ + ІрБ - ІпК = 2,3891∙10-6А; е) ж) щоб підвищити коефіцієнт інжекції γ, концентрацію необхідно зробити значно вищою, ніж у базі. Величина параметра βТ буде збільшена, якщо товщина бази буде малою в порівнянні з товщиною емітера. и) коефіцієнт множення струму колектора Також можна записати Вважаючи, що А.3.2.5 а) б) в) г) для області бази Контактна різниця потенціалів на емітерному переході Концентрація носіїв в області просторового заряду в переході емітер-база буде QЕБ = (2εε0NБUЕБ0)1/2 = (2,1∙1,035∙10-12∙1,6∙10-19∙1,62∙10-17∙0,975)1/2 = Тому, Товщина області просторового заряду в переході колектор-база Концентрація носіїв у збудженій області переходу колектор-база Підсумкова концентрація носіїв у базі:
|